Rastrovací mikroskop, kterým je možné sledovat tok elektrického proudu v mikroelektronických obvodech zkonstruoval tým prof.Gang Xiao z Brown University ve Spojených státech. Funguje obdobně jako čtecí zařízení pro harddisk nebo disketu. Magnetické pole vyvolané protékajícím proudem změní vlastnosti miniaturní čtecí hlavy, která se pohybuje těsně nad zkoumaným vzorkem. Zařízení pracuje za pokojové teploty a umožňuje zkoumat fungování mikroelektronických obvodů a detekovat tak jejich poškození.