Mikroskop atomárních sil (atomic force microscope, zkráceně AFM) je metoda zkoumání struktury povrchů nanometrových rozměrů. Extrémně tenký hrot řízený citlivými piezoelektrickými krystaly skenuje zkoumaný povrch. Kvůli zvýšení citlivosti hrot zpravidla osciluje, přičemž sledujeme vliv atomárních nerovností povrchu na tyto kmity. Signály kmitající se známou základní frekvencí zvládáme měřit s mnohem vyšší citlivostí.

Zajímavé zjednodušení konstrukce představuje hliníková makroskopická vidlice o délce 7 cm, jež kmitá podobně jako ladička. Jehlu najdeme na spodní větvi vidlice, piezoelektrickou pohonnou jednotku a akcelerometr, který slouží k monitorování pohybů, na větvi horní. Přesnost měření vyhovuje a výroba je mnohem snazší a levnější než dosud užívaných mikroskopických mechanických oscilátorů. Jak to funguje, ukazuje tato animace. „Detekovat nerovnosti o rozměrech 100 nm pomocí nástroje 7 cm dlouhého je jako měřit velikost viru pomocí Eiffelovy věže,“ srovnává spoluautor metody Antoine Nigues z pařížské École Normale Supérieure.