Japonsko-španělsko-český tým expertů zdokonalil mikroskop atomárních sil (AFM – atomic force microscope), že je schopen určit i druh jednotlivých atomů na zkoumaném povrchu. Původní AFM vynalezený přibližně před dvaceti lety zkoumá povrch tak, že registruje sílu, která působí na diamantový hrot, jež se pohybuje těsně nad ním. Netřeba podotýkat, že jeho špička musí být extrémně ostrá. Tvoří ji čtyřstěn z pouhých čtyř atomů uhlíky. Měření se zpřesní, pokud hrot kmitá. A právě z rozdílu frekvence jeho kmitů lze po pečlivé kalibraci usuzovat i na to, který konkrétní atom se nachází přímo pod ním.
Určení jednotlivých atomů
1.3.2007
