Poprvé změřit van der Waalsovu sílu mezi jedinými dvěma atomy se podařilo japonsko-švýcarsko-finsko-švédsko-německému týmu pod vedení prof.Ernsta Meyera z Basilejské univerzity. Využili k tomu mikroskop atomárních sil (AFM), který extrémně ostrým hrotem jakoby ohmatává s atomovým rozlišením povrch pod sebou. Hrot mikroskopu zakončili atomem vzácného plynu xenonu Xe. Na podložce z mědi, kterou pokryli tenkou vrstvu komplexu z měďnatých kationtů a 4,9-diaminoperylen-chinon-3,10-diiminu, za nízké teploty fixovali atomy xenonu Xe, kryptornu Kr a argonu Ar. K nim přibližovali a oddalovali xenonový hrot a měřili tak síly mezi pouhými dvěma atomy. Naměřené hodnoty odpovídají teoretickým výpočtům. Van der Waalsovy síly jsou nejslabší přitažlivé nebo odpudivé interakce mezi atomy a molekulami. Vznikají v důsledku vzájemného působení nehomogenně rozložených elektrických nábojů. Zkoumaný povrch s přichyceným atomem Xe (nahoře) a bez něj (dole) vidíme na obrázku, který byl pořízen pomocí rastrovacího tunelového mikroskopu, techniky podobné AFM. Bílá úsečka je 1 nanometr dlouhá (S.Kawai et al., Van der Waals interactions and the limits of isolated atom models at interfaces Nature Communications 7, Article number: 11559).